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1
Structure Analysis of Advanced Nanomaterials: Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy
De Gruyter
Takeo Oku
electron
figure
hrem
diffraction
atomic
observed
atoms
crystal
shown
structures
oxygen
layers
calculated
specimen
electrons
axis
analysis
c60
materials
contrast
cu3
nanotubes
microscopy
lattice
observation
obtained
values
fourier
microscope
gaas
clusters
thickness
defocus
sample
surface
determined
shows
atom
boron
nanotube
layer
ray
rhrem
twin
voltage
dimensional
doping
spots
transform
accelerating
Année:
2014
Langue:
english
Fichier:
PDF, 14.84 MB
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0
english, 2014
2
Structure analysis of advanced nanomaterials : nanoworld by high-resolution electron microscopy
De Gruyter
Oku
,
Takeo
electron
figure
hrem
diffraction
atomic
observed
atoms
crystal
shown
structures
oxygen
layers
calculated
specimen
electrons
axis
analysis
c60
materials
contrast
cu3
nanotubes
microscopy
lattice
observation
obtained
values
fourier
microscope
gaas
clusters
thickness
defocus
sample
surface
determined
shows
atom
boron
nanotube
layer
ray
rhrem
twin
voltage
dimensional
doping
spots
transform
accelerating
Année:
2014
Langue:
english
Fichier:
PDF, 15.10 MB
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english, 2014
3
Structure Analysis of Advanced Nanomaterials
De Gruyter
Takeo Oku
electron
figure
hrem
diffraction
atomic
observed
atoms
crystal
shown
structures
oxygen
layers
calculated
specimen
electrons
axis
analysis
c60
materials
contrast
cu3
nanotubes
microscopy
lattice
observation
obtained
values
fourier
microscope
gaas
clusters
thickness
defocus
sample
surface
determined
shows
atom
boron
nanotube
layer
ray
rhrem
twin
voltage
dimensional
doping
spots
transform
accelerating
Année:
2014
Langue:
english
Fichier:
PDF, 14.95 MB
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english, 2014
4
Structure Analysis of Advanced Nanomaterials: Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy
De Gruyter
Takeo Oku
electron
figure
hrem
diffraction
observed
atomic
atoms
crystal
shown
oxygen
structures
layers
calculated
electrons
specimen
axis
contrast
nanotubes
microscopy
lattice
obtained
observation
c60
values
analysis
microscope
fourier
materials
clusters
determined
sample
shows
boron
defocus
thickness
nanotube
surface
dimensional
ray
layer
atom
twin
gaas
spots
voltage
doping
indicates
transform
accelerating
beams
Année:
2014
Langue:
english
Fichier:
EPUB, 6.73 MB
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